樣本均值（X?）：所有樣本測量值的平均值。樣本標(biāo)準(zhǔn)差（σ）：衡量樣本數(shù)據(jù)分散程度的統(tǒng)計量。計算過程計算偏移量（ε）：偏移量（ε）是樣本均值（X?）與規(guī)格中心值（M=(U

樣本均值（X?）：所有樣本測量值的平均值。樣本標(biāo)準(zhǔn)差（σ）：衡量樣本數(shù)據(jù)分散程度的統(tǒng)計量。計算過程計算偏移量（ε）：偏移量（ε）是樣本均值（X?）與規(guī)格中心值（M=(USL+LSL)/,之間的差值，即ε=|X?-M|。Mcp:測量能力指數(shù)Mcp=T/=T/,U：測量的極限誤差U。

Cgk代表檢具能力指數(shù)，即測量設(shè)備保證測量準(zhǔn)確可靠程度的能力指數(shù)。它是短期的檢測設(shè)備能力指數(shù)，用于評估測試儀器的測量能力是否和被測產(chǎn)品的公差要求相匹配。準(zhǔn)備階段（與Cg計算相同）：確定被測量特性及測量方法。取樣并進(jìn)行多次測量。計算階段（部分與Cg計算相同）：用這組數(shù)據(jù)計算出平均值X。σs：設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)偏差，反映設(shè)備在連續(xù)加工中的性能波動。通常由一系列測量的標(biāo)準(zhǔn)差來衡量。它越大表示加工精度變化越大，越小則表示加工精度更加穩(wěn)定。計算公式涉及到統(tǒng)計樣本的離散程度計算。Tpk：時間周期指數(shù)，反映設(shè)備在一段時間內(nèi)保持能力性能的持續(xù)性水平。

cmk設(shè)備能力指數(shù)多少是合格的？沒有一個標(biāo)準(zhǔn)的說法！一般情況下，我們在采購精密加工設(shè)備的時候，會在合同條款上附加：“關(guān)鍵加工能力cm≥,cmk≥,，該標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備調(diào)試好后，與設(shè)備供方一起測量、驗證。設(shè)備能力指數(shù)計算表零件名稱飛輪殼零件號A,工序名稱鏜轉(zhuǎn)換面階梯孔設(shè)備名稱及型號GHC-質(zhì)量特性Ф,ф。

定義：Cmk，即MachineCapabilityIndex，德國汽車行業(yè)的常用參數(shù)，代表臨界機(jī)器能力指數(shù)。它僅考慮設(shè)備自身影響，衡量設(shè)備平均值與規(guī)范中心值偏移的情況。設(shè)備能力指數(shù)，簡寫為Cmk，是反映連續(xù)生產(chǎn)過程中的一種過程指數(shù)，通常稱為初始過程能力。長期過程能力可以通過Cmk的結(jié)果進(jìn)行估算。設(shè)備的cmk值是可以計算的，它通過測量設(shè)備的性能指標(biāo)和制程能力指標(biāo)來評估設(shè)備的穩(wěn)定性和可靠性。具體計算方法是將設(shè)備的制程能力指標(biāo)（Cp）與設(shè)備的制程能力指數(shù)（Cpk）進(jìn)行比較，取較小值作為設(shè)備的cmk值。Cp表示設(shè)備的制程能力，即設(shè)備在正常運行時的性能指標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)差與規(guī)格寬度的比值。

目前的一些企業(yè)一般是要求CMK不小于,也有是要求大于,。CMK,全稱machinecapabilityindex，中文意思是機(jī)器能力指數(shù)，是最適合評估機(jī)器對于一個特殊要求的可適用性。CMK和CPK大體上差不多公式是一致的，實際上是和PPK一樣，也就是說標(biāo)準(zhǔn)差方面有點差異，使用的是STDEV。CP是一種用于測量機(jī)器或過程潛在能力的指數(shù)。CP更適合表現(xiàn)工序的加工能力（在不考慮規(guī)格的情況下），而CPK是一種用于測量機(jī)器或過程在生產(chǎn)規(guī)格范圍內(nèi)產(chǎn)品的能力的指數(shù)。CPK更適合于表現(xiàn)過程生產(chǎn)出產(chǎn)品的不良率。CP與CPK的區(qū)別：只有在計量值為雙側(cè)公差而且分布中心和標(biāo)準(zhǔn)中心重合的情況下。