光學(xué)探針平面度測(cè)量光學(xué)檢測(cè)儀器的一個(gè)明顯優(yōu)勢(shì)是非接觸測(cè)量，這意味著它可以在不接觸或損壞被測(cè)對(duì)象的情況下進(jìn)行精確測(cè)量，特別適合測(cè)量易碎或敏感的材料。光學(xué)檢測(cè)儀器設(shè)

光學(xué)探針平面度測(cè)量光學(xué)檢測(cè)儀器的一個(gè)明顯優(yōu)勢(shì)是非接觸測(cè)量，這意味著它可以在不接觸或損壞被測(cè)對(duì)象的情況下進(jìn)行精確測(cè)量，特別適合測(cè)量易碎或敏感的材料。光學(xué)檢測(cè)儀器設(shè)備的稅號(hào)為:光學(xué)檢測(cè)儀器設(shè)備；簡(jiǎn)稱:光電測(cè)量?jī)x器說(shuō)明:包括氦質(zhì)譜檢漏平臺(tái)、半導(dǎo)體器件光學(xué)檢查儀器、光學(xué)或刻度尺比較儀、光學(xué)表面檢查儀器、光學(xué)測(cè)角儀或角度規(guī)、長(zhǎng)度計(jì)工作臺(tái)和干涉儀。

激光測(cè)長(zhǎng)機(jī)等。電測(cè)量?jī)x器:電壓、電阻、電流等。、工程力學(xué)測(cè)量?jī)x器:萬(wàn)測(cè)力計(jì)、衡器等。光學(xué)測(cè)量?jī)x器:顯微鏡、經(jīng)緯儀、光學(xué)轉(zhuǎn)臺(tái)、影像測(cè)量?jī)x、光學(xué)頻譜測(cè)量?jī)x、平行光管等。自動(dòng)光學(xué)圖像測(cè)量?jī)x是一種主要利用光學(xué)原理和圖像處理技術(shù)進(jìn)行非接觸測(cè)量的高精度測(cè)量和分析儀器。

此外，高端光學(xué)測(cè)量設(shè)備通常具有高速度和高精度。一鍵式影像測(cè)量?jī)x（閃光測(cè)量?jī)x）FM系列采用新型影像測(cè)量技術(shù)，是一種能夠簡(jiǎn)單、批量、快速、準(zhǔn)確測(cè)量二維平面尺寸的精密測(cè)量?jī)x。一鍵測(cè)量?jī)x概述:一鍵測(cè)量?jī)x又稱“閃光測(cè)量?jī)x”、“一鍵閃光測(cè)量?jī)x”、“一鍵影像測(cè)量?jī)x”、“一鍵光學(xué)測(cè)量?jī)x”、“影像尺寸測(cè)量?jī)x”，采用新型影像測(cè)量技術(shù)，簡(jiǎn)單、批量、快速。

AOI設(shè)備使用各種光學(xué)技術(shù)，如高分辨率攝像頭和圖像處理算法，快速準(zhǔn)確地檢測(cè)PCB。工程測(cè)量?jī)x器中有哪些經(jīng)緯儀測(cè)量水平角和垂直角？主要特點(diǎn):非接觸測(cè)量:避免了物理接觸可能造成的測(cè)量誤差。按讀數(shù)設(shè)備分為游標(biāo)經(jīng)緯儀、光學(xué)經(jīng)緯儀和電子（自動(dòng)顯示）經(jīng)緯儀。與卡尺和螺旋千分尺相比，二維測(cè)量?jī)x器效率低，數(shù)控成像儀容易誤判。